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ACHEMA 2009


Schon heute freuen wir uns, Sie auf der ACHEMA 2009, vom 11. bis 15. Mai 2009 in Frankfurt am Main, begrüßen zu dürfen.


Die ACHEMA 2009 ist die Leitveranstaltung der chemischen Technik und Prozessindustrie weltweit.

Sie ist Innovationsplattform und Technologiegipfel mit weltweiter Ausstrahlung, und Branchenforum der führenden Unternehmen.

Wir freuen uns auf Ihren Besuch in Halle 6.3, Stand N23-O23!

Wir präsentieren Ihnen unsere Photo-DSC 204 F1 Phoenix® - ASC (Dynamisches Differenz-Kalorimeter mit Automatischem Probenwechsler).

Mit der Photo-DSC 204 F1 Phoenix ® wird NETZSCH dem Markttrend gerecht, UV-Härtungen lichtaktiver Harzsysteme, Klebstoffe, Lacke, Coatings und Dentalmassen untersuchen zu können. Weitere Applikationsbereiche sind u.a. die Ermittlung des Lichteinflusses auf die Haltbarkeit von Nahrungsmitteln oder auf die Lebensdauer technischer Öle, Fette und Schmierstoffe.

Informieren Sie sich über unsere einfach zu bedienende Thermo-Mikrowaage, TG 209 F3 Tarsus-ASC, die insbesondere für Routineanwendungen im Kunststoffbereich, aber auch für die chemische Industrie entwickelt wurde. Sie ist das ideale Einstiegsgerät bis 1000°C.


Erleben Sie die STA 449 F1 Jupiter®. Mit diesem Analysegerät setzt NETZSCH neue Maßstäbe. Höchstmögliche Flexibilität bei der Gerätekonfiguration und unvergleichliche Leistungsfähigkeit sind die Grundlage für unbegrenzte Anwendungsmöglichkeit in den Bereichen Keramik, Metalle, Kunststoffe, Verbundwerkstoffe innerhalb eines weiten Temperaturbereiches (-150…2000°C). In der Ausstellung befindet sich ebenfalls unser QMS 403 Aëolos®, ein sehr kompaktes Massenspektrometer mit beheiztem Kapillar-Einlasssystem, speziell konzipiert für die Routineanalyse von flüchtigen Zersetzungsprodukten bei der thermischen Analyse.

Unsere LFA 447 NanoFlash®, ein Light Flash-System mit dem sich thermophysikalische Eigenschaften schnell, einfach und kostengünstig ermitteln lassen, wird auch zu sehen sein.


Ebenfalls ausgestellt sind Schaukästen mit unterschiedlichen DMA-Probenhalterungen sowie den verschiedenen DEA-Sensoren.

 
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