Temperaturleitfähigkeitsmessungen - leicht gemacht

Mit dem neuen LFA 447 NanoFlash® Light Flash-System lassen sich thermophysikalische Eigenschaften schnell, einfach und kostengünstig ermitteln.

Eine leistungsfähige Xenon Blitzlampe ersetzt die sonst bei dieser bewährten Technik meistens eingesetzten Laser.

Durch die Verwendung des integrierten Probenwechslers für 4 Proben sind automatische Messungen an mehreren Proben möglich. Die leichte Zugänglichkeit der Probenaufnahmerahmen erlaubt kurze Rüstzeiten für die Versuchsvorbereitung und einen hohen Probendurchsatz.

Einzigartig ist die alternative Scanning Einrichtung (MTX) für flache Proben bis
50 mm x 50 mm zur Bestimmung von Unterschieden in der Temperaturleitfähigkeit über die gesamte Probenfläche mit einer Ortsauflösung von 100 µm in x- und y- Richtung.