열확산율 측정 – 가장 쉬운 측정 방법

LFA 447 NanoFlash® - Xenon Flash 법

 

일반사항

기술사양

소프트웨어

응용분야

액세서리

문헌

LFA 447 NanoFlash® - 기술 사양 (사양 변경 가능)

• 온도 범위: RT ... 300°C

• Xenon-Flash-Lamp 10 J/pulse, (세기 조절 가능)

• IR 센서로 비접촉식 상승 온도 측정

• 측정 범위: 0.01 mm2/s ... 1000 mm2/s (열확산율)

• 측정 범위: < 0.1 W/mK ... 2000 W/mK (열전도율)

• 시료 크기: 직경 10 mm ... 25.4 mm (또는 8x8 mm and 10x10 mm, 정사각형) 두께 1 mm ... 3 mm

• 4개 시료용 지지대

• 시료 홀더: metal

• 액상용 시료 홀더: aluminum / platinum

• 분위기: air, static

• 50 mm x 50 mm 크기의 MTX Scanning device (RT), 위치 감도 0.1 mm

 

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LFA 427

LFA 457 MicroFlash®