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새로운 LFA 447 NanoFlash® 제논 플래시 시스템을 이용하여 열물성 특성 측정을 빠르고, 간편하게 할 수 있습니다.
이미 증명된 기술로 통상적으로 사용되는 laser 대신에, 고성능의 Xenon flash 램프가 장착되어 있습니다.
4개의 시료를 교환할 수 있는 내장형 Automatic Sample Changer가 있어, 자동으로 여러 개의 시료를 측정할 수 있습니다. 조작이 쉬운 시료 장착부는 짧은 측정 준비 시간 및 높은 처리량을 가능하게 합니다.
특별한 기능의 옵션인 scanning device (MTX) 는 최대 50 mm x50 mm 크기의 평판형 시료의 전체 표면에 대하여, x 및 y 축 각각 100 µm 간격으로 열확산율 차이를 측정할 수 있습니다.
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