Измерения температуропроводности без лишних затрат

С использованием новой экономичной системы LFA 447 NanoFlash® теплофизические параметры веществ могут быть определены легко и быстро.

Для нагрева образца используется энергия импульсной ксеноновой лампы, а не лазерного излучения, как в других приборах этой серии.

Встроенное устройство для автоматической смены образцов позволяет проводить измерения 4-х образцов за один эксперимент. Образец размещается в легкодоступной камере, что значительно сокращает временные интервалы между отдельными измерениями и повышает производительность установки.

По желанию заказчика прибор может быть оснащен сканирующей системой (MTX) для определения разницы температуропроводности в точках на поверхности плоских образцов максимального размера 50 мм x 50 мм с разрешением до 100 мкм вдоль осей x и y.