Dünnes und hochleitfähiges Kupfer

Diese Abbildung zeigt Messungen an Kupferproben mit unterschiedlichen Dicken. Sie bestätigen, dass die Laser-Flash-Apparatur LFA 467 HyperFlash auch Proben mit sehr hohen thermischen Leitfähigkeiten zuverlässig untersuchen kann. Darüber hinaus belegen diese Messungen, dass selbst sehr dünne Proben mit einer Probendicke von 3,0 mm auf 0,25 mm mit hoher Genauigkeit untersucht werden können. Probenvorbereitung und Dickenbestimmung müssen bei der Messung von sehr dünnen Proben besonders sorgfältig durchgeführt werden. Dies ist auch der Grund dafür, warum die Messempfindlichkeit mit zunehmender Probendicke abnimmt.
Die ermittelten Werte für die Temperaturleitfähigkeit der Kupferproben stimmen unabhängig von der Probendicke sehr gut mit den Literaturdaten überein.

 

Die ermittelten Werte für die Temperaturleitfähigkeit stimmen unabhängig von der Probendicke sehr gut mit den Literaturwerten überein.Die ermittelten Werte für die Temperaturleitfähigkeit stimmen unabhängig von der Probendicke sehr gut mit den Literaturwerten überein.