Silicon wafer — Thermophysical Properties

In this example, the thermophysical properties of a silicon wafer were measured with the LFA 457 MicroFlash®. In the temperature range from -100°C to 500°C, the thermal conductivity and thermal diffusivity continuously decrease.
Determination of the specific heat was carried out with the DSC 204 F1 Phoenix®. The standard deviation of the data points is < 1%.

LFA and DSC measurement of a silicon wafer between -100°C and 500°C.LFA and DSC measurement of a silicon wafer between -100°C and 500°C.
DSC 204 F1 Phoenix® - die Premium-DSC von -180°C bis 700°C

Höchste Empfindlichkeit und höchste Trennschärfe sind bei dieser Premium-DSC (Dynamisches Differenzkalorimeter) Programm. Ebenso realisiert: Temperaturmodulation (TM-DSC), ein automatischer Probenwechsler (ASC) mit 64 Positionen und die Möglichkeit, mit einem Gasanalysesystem (QMS und/oder FT-IR) zu koppeln.

LFA 457 MicroFlash® - Laser Flash Apparatur

Die LFA 457 MicroFlash®, Laser Flash Apparatur, ist das modernste Produkt für die Bestimmung der Temperatur- und Wärmeleitfähigkeit im Bereich -125 °C bis 1100 °C. Der kompakte, vakuumdichte Aufbau, der automatische Probenwechsler und die funktionale Software garantieren höchste Effektivität bei anspruchsvollen Materialuntersuchungen.