Cuivre fin et hautement conducteur

Ce graphique présente les mesures sur des échantillons de cuivre avec différentes épaisseurs.
Cela prouve clairement que le système peut avec succès mesurer des échantillons avec des très hautes diffusivités. De plus, en diminuant l’épaisseur de l’échantillon de 3.0 mm à 0.25 mm, ces mesures confirment que même les échantillons très fins peuvent être testés avec une très grande précision. La préparation de l’échantillon et la détermination de l’épaisseur doivent être effectuées avec précaution lors de la mesure d’échantillons minces. C’est la raison pour laquelle l’incertitude de mesure augmente lorsque l’épaisseur de l’échantillon diminue.

Les valeurs de diffusivité thermique des échantillons de cuivre sont en très bon accord avec la littérature.Les valeurs de diffusivité thermique des échantillons de cuivre sont en très bon accord avec la littérature.