Silicon wafer — Thermophysical Properties

In this example, the thermophysical properties of a silicon wafer were measured with the LFA 457 MicroFlash®. In the temperature range from -100°C to 500°C, the thermal conductivity and thermal diffusivity continuously decrease.
Determination of the specific heat was carried out with the DSC 204 F1 Phoenix®. The standard deviation of the data points is < 1%.

LFA and DSC measurement of a silicon wafer between -100°C and 500°C.LFA and DSC measurement of a silicon wafer between -100°C and 500°C.
DSC 204 F1 Phoenix®

超高感度で高分解能は、このプレミアム示差走査熱量計 (DSC)で実現できます。 さらに、オートサンプルチェンジャー (ASC)の装備、温度モジュレーション機能 (TM-DSC)の装備、 ベースライン最適化 (BeFlat®)、熱抵抗と時定数の補正 (DSC-correction)、 QMS やFTIRとの接続、 UV照射機能付加(フォトカロリメーター)までもが可能です。

LFA 457 MicroFlash® -レーザーフラッシュアナライザー

LFA 457 MicroFlash® は、熱拡散率と熱伝導率の二つの熱物性を-125°C ~ 1100°Cの温度範囲で解析する 最もモダンな製品です。コンパクトなデザイン、真空密閉構造、自動サンプルチェンジャーそして機能的ソフトウエアーは、効率的で チャレンジングな材料分析をお約束します。