純度解析

純度解析
DSCの融解ピークをベースに、純度を解析します。計算は、Van't Hoff'sの等式の 簡略化を行わずに実行されます。純金属の純度解析 をベースに、熱抵抗の調整は、高純度の値の信頼性を高めます。

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純度解析 は、DSC融解ピークの分析によって材料の純度を解析するプログラムです。
次に示すのは、このプログラムのASTM E 928のような既知の方法と相違する特徴です:

  • 数学近似を行わないVAN'T HOFF方程式を使った純度決定。その応用範囲は5 mol%の不純物スレシホールド値を超える範囲まで拡張可能。予測上限値は10 mol%。
  • ある物質の公称値を既知の純度で計算することにより熱抵抗を調整。これには、高純度領域における高い精度だけでなく、より純度の低い物質も熱抵抗を決定するために使えます。
  • 使われた物質の名称とモル質量が表形式で保存され、全ての開始後に使用できます。データ移動用のインターフェースとしてASCII-ファイルが使用できます。データは、三つの異なるベースラインで補正可能です。::
  • 直線
  • 比例水平エリア
  • 比例接線エリア

非線形回帰は、自動的にベースラインの決定にリンクします。必要な初期パラメーターは、計算を始める時に準備されます。

Error in purity determination caused by approximation routines.Error in Purity Determination caused by approximation routines.

信頼性を上げるために、幾つかの測定結果を平均化し、平均値を標準偏差と共に印刷できます。

These errors are avoided in NETZSCH Purity Determination by using a non-linear regression routine.

結果表は次の通りです。

 

パラメーター名称 結果
不純物/mol%不純物(複数)濃度
純度/mol%純度
To/°C 純粋物質の融解温度、1/部分エリア=> 0の外挿温度
TempClear/°C1/部分エリア->1の外挿で得られた温度
TempBegin/°C部分エリア=0.1の温度
補正/%ピークエリアの補正
エンタルピー/(kJ/mol)物質の融解エンタルピー(DSCピークから測定).


結果は、グラフ付きで印刷することができます。