LFA 467 HT HyperFlash® – フラッシュアナライザー
熱拡散率と熱伝導率測定の新次元 – 高速、簡単、経済的
キセノンフラッシュ使用の室温から１２５０℃までの高精度熱拡散率及び熱伝導率測定
LFA 467 HT HyperFlash® は、既に確立されているLFA 467 HyperFlash®技術をベースにし、革新的な光源システムによってレーザー防護を必要としません。長寿命のキセノンランプ仕様での１２５０℃までの測定評価が可能です。
ZoomOptics – 視野の最適化による正確な測定結果
特許のZoomOptics システム(特許番号：DE 10 2012 106 955 B4 2014.04.03) は、検出器の視野を最適化し、開口部絞りによって起こる測定誤差の影響をなくし、測定結果の精度が飛躍的に向上。
超高速サンプリング速度（最高２ＭＨz）と極めて短いパルス幅（最小２０μｓ）により、より薄く、高い熱伝導材料の測定を可能にします
LFA 467 HyperFlash®シリーズのデータ取込速度は、２ＭＨｚまで増加。この取込速度は、ＩＲ検出器とパルスマッピングチャンネルの両方に適用されます。従って、非常に短いテスト時間が必要な高熱伝導あるいは薄い材料などの信頼性の高いテストが可能になります。金属箔（０．３ｍｍ）やポリマーフィルム（３０μｍ）などをテストする際、最適なサンプリング速度とパルス幅を選択することができます。また特許のパルスマッピングシステムが、有限パルス幅効果や熱損失を考慮し計測をします(特許番号：US7038209 B2; US20040079886; DE10242741)。
特定雰囲気や酸化を防止するための真空密閉構造
それぞれの測定前の自動排気機能によって、内蔵ポンプシステムが特定雰囲気での測定をサポートします。また外部付加のポンプシステム接続も可能です。真空タイト白金加熱炉が、５０ Ｋ/ｍｉｎまでの加熱速度を実行します。
高い測定量と高い精度 – ４試料４熱電対
標準内蔵のオートサンプルチェンジャー（ＡＳＣ）により、全温度範囲に渡る効率的な試料測定が可能。ＡＳＣの４つの試料位置それぞれに、独立した熱電対が備えられており、これにより、試料と温度測定位置間の温度偏差を最小限にすることができます。ＡＳＣは、試料寸法１２．７ｍｍ（円形）及び１０ｍｍ（円形及び角形）用にデザインされています。
最小の設置面積
LFA 467 HT HyperFlash®は、１２５０℃に到達可能なランプ使用。オートサンプルチェンジャーを装備した加熱炉は全温度範囲をカバーし、LFA 467 HyperFlash®シリーズの装置小スペースを維持しています。高温下においても、内蔵の水冷回路により、周辺機器の温度を安全な範囲に保持し、ＩＲ検出器の液体窒素消費量を抑制しています。
測定エラーの無いより正確な測定結果のためのZoomOptics
一般的に、検出器で走査される試料上面の領域は、最大試料寸法25.4mmに適合するよう調整されています。それより小さな径の試料は、ほとんどの場合、その辺縁帯を可能な限り、マスクやキャップで覆っています。しかしながら、マスクやキャップ材料を含むすべての物体は赤外線を放射しており、検出器の信号は必然的にその影響を受けます。この影響の度合いは、試料とマスク/キャップ材料との熱拡散率の違いによって顕著になります。結果として、主要温度上昇の最終部分の検出器信号は、温度上昇を続けるか、上昇しきれずに終わってしまうことがあります。どちらの場合においても、評価されるハーフタイムのシフトが生じ、算出される熱拡散率に誤差が生まれます。
ZoomOptics（特許番号：DE 10 2012 106 955 B4 2014.04.03）は、検出器の視野を調整することにより、周辺やマスクからの影響をなくします。これにより試料の温度上昇のみを検出することが可能です。ほとんどの測定をカバーするプリセット焦点値は70%ですが、この値は測定試料形状に合わせ、オペレーターが個別に調整することもできます。
