Silicon wafer — Thermophysical Properties

In this example, the thermophysical properties of a silicon wafer were measured with the LFA 457 MicroFlash®. In the temperature range from -100°C to 500°C, the thermal conductivity and thermal diffusivity continuously decrease.
Determination of the specific heat was carried out with the DSC 204 F1 Phoenix®. The standard deviation of the data points is < 1%.

LFA and DSC measurement of a silicon wafer between -100°C and 500°C.LFA and DSC measurement of a silicon wafer between -100°C and 500°C.
DSC 204 F1 Phoenix®

매우 높은 감도와 재현성을 원하시는 분들을 위한 프리미엄 DSC로서 Automatic Sample Changer (ASC), Temperature Modulated DSC, baseline 최적화 장치 (BeFlat®), DSC-correction, 추가적으로 Photo-calorymetry를 위한 UV-장착, QMS와 FTIR과의 coupling이 가능한 프리미엄 DSC를 이 장비를 통해 경험할 수 있습니다.

LFA 457 MicroFlash® - Laser Flash 법

LFA 457 MicroFlash® 는 -125°C 에서 1100°C 의 범위에서 열확산율 및 열전도율을 측정하기 위한 가장 최신의 장비입니다. 콤팩트한 진공설계, Automatic Sample Changer 및 뛰어난 소프트웨어 등은 재료 평가의 효율성을 극대화합니다.