LFA 467 HT HyperFlash® – 섬광법

LFA 467 HT HyperFlash® – 섬광법

열확산도와 열전도도 기술의 새로운 한계 – 더욱 빠르고, 간단하며 경제적인 측정방법

Xenon 플래시 램프를 사용한 정확한 열확산도와 열전도도 측정 기술 – 상온 ~ 약 1250℃ 이상
The LFA 467 HT HyperFlash® 는 이미 인정받은 LFA 467 HyperFlash® 기술과 더불어 실제 레이저를 사용하지 않는 Xenon 플래시 램프를 사용한 혁신적인 시스템입니다.

더 정확한 측정 결과를 위한 ZoomOptics
특허 등록된 ZoomOptics 시스템 (특허 번호: DE 10 2012 106 955 B4 2014.04.03)은 적외선 센서의 검출 영역을 최적화하고, 조리개와 샘플의 가장자리에서 측정 결과에 영향을 끼칠 수 있는 다양한 원인들을 제거합니다. 그 결과, 측정 결과의 정확도가 매우 향상되었습니다.

얇은 샘플과 고열전도성 물질에 대한 측정 기술 – 초고속 데이터 처리 (최대 2 MHz)와 매우 짧은 펄스 폭(최대 20 µs)
LFA 467 HyperFlash® 모델들의 데이터 처리 속도는 이전보다 증가하여 최대 2 MHz입니다. 이러한 데이터 처리 속도는 IR 센서와 펄스광 센서에 모두 적용됩니다. 얇은 샘플과 고열전도성 물질들에 필요한 매우 빠른 테스트 시간은 초고속 데이터 처리 기술을 통해 정확하게 측정할 수 있습니다.

금속 샘플 (d=0.3 mm)과 고분자 필름 (d=30 μm)들을 측정할 경우, 최적화된 데이터 처리 속도와 펄스 폭을 선택할 수 있습니다. 유한한 펄스 폭 효과와 열손실에 대한 펄스 맵핑 시스템은 특허 기술로 등록되었습니다 (특허 번호: US7038209 B2; US20040079886; DE1024241).

 

진공 구조 – 측정 분위기 가스 설정과 산화 방지 시스템
내장된 펌프 시스템은 측정 전 자동으로 진공/가스 채움 과정을 진행하여 사용자가 원하는 측정 분위기 가스 조건으로 빠른 시간 내에 설정할 수 있습니다. 또한, 외부의 펌프 장치를 추가로 연결할 수도 있습니다. 진공 설계된 플래티늄 퍼니스 (Pt Furnace) 는 최대 50 K/min으로 가열할 수 있습니다.

빠른 샘플 처리량과 높은 정확성 – 4 샘플/4 온도센서
효율적인 샘플 처리량은 자동 샘플 공급 시스템(ASC; Automatic Sample Changer)을 통해 전체 측정 온도 범위에 걸쳐 가능하게 합니다. ASC의 4개 샘플 포지션들에는 각각의 온도 센서들이 내장되어 있습니다. 각각의 온도 센서들은 샘플과 온도 센싱 포지션과의 편차를 최소화하는 기능을 합니다. ASC는 12.7 mm 와 10 mm 들의 샘플 사이즈에 대하여 설계되었습니다.

컴팩트한 사이즈에서도 풀옵션 탑재
LFA 467 HyperFlash® 은 약 1250℃ 이상의 고온 영역에서 세계 최초로 플래시 램프를 사용한 LFA 시스템입니다. ASC가 내장된 단일 퍼니스로도 전체 측정 온도 범위에서 측정 온도를 정확하게 제어할 수 있으며, 잘 알려진 LFA 467 HyperFlash® 모델들처럼 매우 컴팩트한 공간에서도 사용할 수 있습니다. 효율적인 수냉 시스템은 고온에서도 샘플을 둘러싼 부품들의 온도를 안전한 조건하에 유지하는 기능을 하며, IR 센서에 사용되는 액체 질소의 소모량을 최소한으로 감소시킬 수 있습니다.

       

기술사양

기술사양

(사양변동가능)

  • 온도 범위:
    RT to >1250°C
  • 승온 속도:
    50 K/min
  • IR 센서:
    • InSb: RT to >1250°C
    • LN2 자동 리필 시스템
  • 데이터 처리 속도:
    최대 2 MHz (IR 신호와 펄스광 신호)
  • 열확산도:
    0.01 mm2/s to 2000 mm2/s
  • 열전도도:
    < 0.1 W/(mK) to 4000 W/(mK)
  • 특허된 펄스 맵핑 기술
    유한한 펄스 보정과 비열(Cp) 정확도 개선
  • 분위기 가스:
    불활성, 산화유도, 유량 가변 가능
  • 진공:
    10-4 mbar
  • 샘플 홀더:
    원형/사각형 타입
  • 가스 조절:
    MFC and AutoVac
LFA 467 HT HyperFlash® 의 도식화LFA 467 HT HyperFlash® 의 도식화;
광원을 통해 샘플 후면이 순간적으로 가열되면, IR 센서는 샘플 윗면의 온도 변화를 측정합니다.
ZoomOptics

ZoomOptics

더 정확한 측정 결과를 위한 ZoomOptics

샘플 후면의IR 센서가 감지하고 있는 면적은 일반적으로 최대 25.4 mm까지 사용자 요구에 맞게 조절되고 있습니다. 더 작은 지름의 샘플들은 샘플 주변 영역을 가리기 위하여 대부분 마스크나 캡을 사용 합니다. 그러나, 마스크나 캡의 물질들과 같은 모든 부품들에서조차 적외선 복사가 일어납니다. 그 결과, 이러한 주변의 복사에 의한 신호도 IR 센서에서 검출되어 측정 결과에 영향을 끼치게 되고, 정도의 차이는 샘플과 마스크/캡의 물질들 사이의 열확산도 차이에 따라 달라집니다. LFA에서 중요한 온도 변화 신호는 계속하여 증가하거나 비정상적으로 변할 수 있습니다. 둘 중 어느 경우에나, 하프 타임 (Half time) 분석에 대하여 에러가 발생하고, 계산된 열확산도가 왜곡되게 됩니다.

ZoomOptics  시스템은 샘플의 후면에 대하여 검출 영역을 조절하여 샘플 후면에서 발생되는 온도 증가만 측정하고, 주변이나 마스크에서 발생되는 모든 효과들을 제거할 수 있습니다.  대부분의 응용 분야에 맞춰 미리 정해진 권장 초점값 (Focus value)은 약 70%이지만, 샘플의 형상과 관련하여 사용자가 각각 조절할 수 있습니다.

ZoomOptics  시스템의 장점은 아래의 그림(Pyroceram 9606 테스트)에 명확히 나타내었습니다 :

Thermal diffusivity resultsThermal diffusivity results
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