Silicon wafer — Thermophysical Properties

In this example, the thermophysical properties of a silicon wafer were measured with the LFA 457 MicroFlash®. In the temperature range from -100°C to 500°C, the thermal conductivity and thermal diffusivity continuously decrease.
Determination of the specific heat was carried out with the DSC 204 F1 Phoenix®. The standard deviation of the data points is < 1%.

LFA and DSC measurement of a silicon wafer between -100°C and 500°C.LFA and DSC measurement of a silicon wafer between -100°C and 500°C.
DSC 204 F1 Phoenix®

Kalorymetr charakteryzujący się wysoką czułością oraz rozdzielczością. Może pracować z automatycznym podajnikiem próbek ASC. Dodatkowo umożliwia pracę w trybie modulacji temperatury (TM-DSC), zapewnia optymalizację linii bazowej tzw. (BeFlat®), korekcję sygnału DSC ze względu na opór cieplny oraz stałą czasową. Możliwość sprzężenia z QMS i FTIR a także poszerzenia badań w zakresie fotokalorymetrii.

LFA 457 MicroFlash® - Instrument LFA

LFA 457 MicroFlash® jeden z najbardziej nowoczesnych instrumentów w zakresie laserowej metody impulsowej (LFA) służący do pomiaru dyfuzyjności cieplnej w zakresie temperatur od -125°C do 1100°C. Modułowa, próżnioszczelna konstrukcja, automatyczny podajnik próbek oraz funkcjonalne oprogramowanie sterujące instrumentem zapewniają wysoką efektywność pomiarów nawet na materiałach o skomplikowanej strukturze.